光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2025-05-04
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2025-05-04
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-05-04
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針反射儀臺(tái)式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時(shí)間:2025-05-04
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時(shí)間:2025-05-04
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的，它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì)，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:2025-05-04
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-05-04
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2025-05-04
德國sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2025-05-04
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-05-04
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2025-05-04
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個(gè)測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時(shí)間:2025-05-04
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2025-05-04
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-05-04
xj3020手動(dòng)影像測量儀能高效地檢測各種復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀如：樣板、沖壓件、凸輪、螺紡、齒輪、成形銑刀等各種工具、刀具和零件、以及端子、鐘表、金鋼石等。
更新時(shí)間:2025-05-02
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀（以下簡稱分析儀）以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品，主要用于排氣管道中有害氣體成分的測量，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測以及熱工參數(shù)測量等部門。該分析儀性能指標(biāo)均符合國家環(huán)保局頒布的煙氣測試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法測量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度，不受煙氣中水蒸氣影響，具有較高
更新時(shí)間:2025-04-30
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2025-04-30
線纜絕緣層測量投影儀哪家好，輪廓測量投影儀的價(jià)格，絕緣護(hù)套檢測投影儀多少錢被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-04-30
影像測量儀，二次元影像測量儀，二次元測量儀主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-04-30
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
工業(yè)測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
uk micron optoelectronics的表面粒子檢測器系列通過以下技術(shù)實(shí)現(xiàn)電子半導(dǎo)體行業(yè)表面污染的量化監(jiān)測和控制：核心技術(shù)原理界面顆粒再懸浮技術(shù)?：采用界面技術(shù)，通過物理或氣流方式將附著在關(guān)鍵表面的顆粒重新懸浮，便于后續(xù)檢測。高精度光學(xué)檢測：基于激光光學(xué)傳感器和光散射原理，實(shí)時(shí)捕獲懸浮粒子的散射光信號(hào)，實(shí)現(xiàn)單個(gè)粒子尺寸的精確分析。
更新時(shí)間:2025-04-30
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點(diǎn)、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預(yù)置和構(gòu)造2）座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時(shí)間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打印）5）多種座標(biāo)顯示方式，極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6）對光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時(shí)間:2025-04-30
機(jī)械式輪廓測量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測量投影儀價(jià)格，電纜外被測量投影儀市場價(jià)格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-04-30
線纜厚度分析測量投影儀，最新電纜外被測量投影儀價(jià)格，最實(shí)惠機(jī)械測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、試驗(yàn)室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時(shí)間:2025-04-30
影像測量儀參數(shù)，二次元影像測量儀的價(jià)格，二次元測量儀特點(diǎn)主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時(shí)間:2025-04-30
電線電纜測量投影儀，絕緣護(hù)套測量儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計(jì)量儀器，適用于以二坐標(biāo)測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時(shí)間:2025-04-30
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護(hù)套檢測投影儀被測工件y置于工作臺(tái)上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時(shí)間:2025-04-30
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡，在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2025-04-30
jy—pha接觸角測定儀，用于液體對固體的浸潤性，通過測量液體對固體的接觸角、計(jì)算、測定液體對固體的附著力，張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2025-04-30
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀，采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯，工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實(shí)性，獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2025-04-30
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-04-30
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2025-04-30
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
更新時(shí)間:2025-04-30
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨(dú)特的測量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時(shí)間:2025-04-30
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-30
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2025-04-30
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2025-04-30
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2025-04-30
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時(shí)間:2025-04-30
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測量設(shè)備
更新時(shí)間:2025-04-30
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2025-04-30
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