HPQN-X型撓度儀
儀器簡介:
HPQN-X型撓度儀是采用目前國內外最先進的圖像散斑識別技術及圖像模糊識別技術,現場無需靶標或其他特征標志點,僅一臺主機即可同時測量多點動態撓度、靜態撓度、位移和振動等數據。
儀器特點:( ※為HPQN-X型撓度儀獨有的技術指標)
※1、基點修正功能:
遠距離非接觸式撓度測量方法最大的問題就是儀器端受風力、地面振動、大地脈動等環境
干擾因素影響較大,直接影響測量數據的可靠性和準確性。在使用此類儀器時,很多廠家給
用戶的建議通常是,環境干擾是不能克服的,只能在試驗室或選擇環境較好的現場來獲得有效的數據。而我公司則一直致力于不斷的完善儀器性能,提高儀器的穩定性來適應現場的使用環境。所以,我公司的HPQN-X型撓度儀較國內其他同類儀器,除具有基線平移功能外,另增設了基點修正功能,消除環境因素對儀器端的影響。
※2、光影修正功能
光學儀器受光影變化影響非常大,在檢測時間超過30分鐘時受太陽光影變化的影響,會出現測點偏移的情況(我們一般稱為跑點),通往我們研發人員的不斷努力,在軟件中加入的大量算法之后,已經完全克服了光影變化對測點的影響。
※3、全屏掃描功能
撓度儀在測試過程中,要求絕對通視,測試過程中不能有任何遮擋,否則測點將會丟失。而我公司的撓度儀增加了全屏掃描功能,在測試過程中,如果有飛鳥、飛蟲、樹葉或其他偶發因素對儀器視野進行遮擋了,但短暫遮擋結束后,通過全屏自動掃描原測點,可以順利找回遮擋前的測點。
※4、測量速度快
本儀器采用4核8線程64位操作系統作為軟件運行平臺,較國內其他同類儀器采用的32位操作系統的運算速度快一倍。所以,在測8個動態測點以下(相對點較少時),我們會比同類儀器的測量速度會快一倍,而在測15個動態測點以下(相對點較多時),HPQN-X型撓度儀依然可以保持117Hz(即每秒采集117次數據的采樣頻率,跟其他廠家測8個動態測點的采樣頻率一樣),在采樣頻率60 Hz時,同時采集50個動態撓度點。
技術指標:( ※為HPQN-X型撓度儀獨有的技術指標)
※控制器:筆記本采用四核八線程酷睿I7處理器,8G內存,64位操作系統;
※軟件增項:基點修正(消除自然環境對儀器端的干擾),光影修正(消除光影變化干擾),丟點自動找回(消除短期遮擋干擾),基線平移;
檢測距離:0.1~500m;
視場范圍:0.01mm~300m;
檢測分辨率:視場范圍的十萬分之一(例:視場為10m×7m,則分辨率約為0.1mm);
測量精度:±0.02mm(檢測距離10m);
測距精度:±1mm;
傾角精度:2″;
鏡頭焦距:8/16/25/50/75/100mm(可選);
檢測模式:現場模式或錄制工況視頻;
※動態測量點數:15個測點(117HZ)\50個測點(60HZ);靜態測量點數:無限制;
采樣頻率:0.01~117Hz;