1.多達82個采樣通道，提高了測試結果的分辨率；全部光電器件制作在同一個硅片上，了光電陣列的使用壽命；交叉扇形排列方式，加大了受光面積，提高了靈敏度；2.微量進樣方式，采用蠕動泵的全自動循環進樣方式，采用虹吸泵自動循環進樣方式，滿足不同客戶的測試需求,儀器標配MS-01微量進樣裝置；3.全量程單鏡頭測量，所有的光學組件都固定在加固的基座上，光學系統出廠前緊固好，使儀器性能更加穩定；4.采用進口半導體激光器，具有使用壽命長，光學參數穩定，不怕振動等一系列優點，連續工作時間長達24個小時，滿足用戶連續大負荷測試的要求。
1、測試范圍（um）：0.15-400 ；（0.4-1100、0.1-450、0.25-650 、0.4-1100）2、重復性：<1%，再現性：<2%，系統誤差：<2%；3、激光發生器：半導體激光器 λ=650nm,功率>3mw；4、光學系統：平行光束；5、軟件運行環境：Windows95/98/xpista；6、計算機接口：USB2.0；7、電源電壓：85-264V/50HZ/60HZ；8、測試原理：激光散射；9、采樣通道：82。
適用領域 各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等； 各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等； 其他粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各種乳濁液等
儀器介紹:EyeTech概念
雙測量通道的選擇 采用獨特的激光光阻法進行快速的粒徑檢測 采用復雜的動態圖像分析法精確的分析非球形顆粒 測量結果直接且僅取決于顆粒大小 測量結果不受顆粒或介質的物理和光學性質影響
EyeTech系列特點：
粒度范圍：0.1-3600微米 能分析粒度，粒形 與 濃度 測量結果直接與顆粒大小相關，而不是二級推算出來 能分析非球狀顆粒的形狀 無需了解樣品的折射指數 能分析透明的樣品 免校正
技術參數:激光和圖像通道的結合
獨獨特的結合了激光光阻法和復雜的動態粒形分析技術 對球形、非球形及延長顆粒的精確分析定性 可同時測量粒徑、形狀和濃度 多種模塊配置可滿足不同類型的干法及濕法檢測需求 測量過程中可實時觀察樣品顆粒
激光粒度分析儀/粒度儀
大尺寸光電探測陣列,適用于各種粉體及漿料的粒度測量...
LS900型激光粒度分析儀功能用途測量固體粉末、乳液中的顆粒的粒度分布。
LS900型激光粒度分析儀工作原理利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。
LS900型激光粒度分析儀應用的專利和專有技術一體化激光發射裝置、散射光的球面接收技術（DAS）、后向散射光接收技術、雙向偏振光補償技術（DTP）。
LS900型激光粒度分析儀產品特點：1. 不僅采用了LS603所采用的后向散射光探測技術，更增加了雙向偏振光補償專利，進一步提高了大角散射光的測量精度，從而把測量下限擴展到0.05μm，達到世界水平。2. 全量程測量，勿需更換鏡頭，使用更方便。
LS900型激光粒度分析儀 技術指標：1. 測試范圍：0.05～500μm2. 進樣方式：濕法，循環進樣器和靜態樣品池3. 重復性誤差：<3%4. 測試時間：1-2分鐘5. 獨立探測單元數：536. 光源種類：氦-氖激光，功率：2.0 mW，波長：0.6328 μm7. 工作環境：溫度：5-35℃，濕度：＜85%
LS900型激光粒度分析儀輸出項目粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑、比表面積等
LS900型激光粒度分析儀測試報告示例
LS900型激光粒度分析儀配置1. 粒度儀主機2. 進樣系統：循環進樣系統和靜態樣品池3. 激光粒度儀測試專用軟件4. 其他配件
產品簡介：
Winner2000是我公司（濟南微納）主力產品，屬于濕法通用型激光粒度儀。采用Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路以及分檔測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。全內置濕法循環分散系統，徹底解決大顆粒在管道中沉積的難題，獨創的無約束擬合數據處理技術與強大的數據處理軟件相結合，保證測試結果的真實可靠。
適用范圍：
Winner2000廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。
l Winner2000B：
winner2000B是我公司主力產品,屬于濕法通用型激光粒度儀。Winner2000B采用了Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路以及分檔測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。全內置濕法循環分散系統，徹底解決大顆粒在管道中沉積的難題，獨創的無約束擬合數據處理技術與強大的數據處理軟件相結合，保證測試結果的真實可靠。
l Winner2000E ：
winner2000E是我公司最新研制產品，與公司Winner2000相比較采用一檔測試，無需換擋操作方便，將通道數由32個擴展到39個，軟硬件均做較大改進，測試性能大大提高，對寬分布樣品測量結果更為精確，屬于濕法通用型激光粒度儀。采用Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路以及分檔測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。全內置濕法循環分散系統，徹底解決大顆粒在管道中沉積的難題，獨創的無約束擬合數據處理技術與強大的數據處理軟件相結合，保證測試結果的真實可靠。
u 主要性能特點：
先進的測試原理：全量程采用Mie氏散射原理及無約束自由反演技術，對任意分布的
顆粒群均可給出真實的結果，有效地提高了儀器的實用性；
最新的專有技術：采用會聚光傅里葉變換專利技術和分檔測試（而非分段測試）技術，
不僅克服了透鏡孔徑對散射角的限制，并能根據測試樣品的粒度分布選擇合適的檔位進
行密級測試，具有極高的分辨能力和準確度；
可靠的分散方式：將超聲波分散、機械攪拌、循環通道合理的集于儀器內部，保證顆粒
測試過程中的均勻分散和分布，有效地避免了外置分散系統因管路長而導致的顆粒分布
不均勻、大顆粒沉積等不良現象，從而保證測試結果的代表性。對比重較大的碳化硅、
氮化硅、氧化鋁等磨料系列產品測試具有良好的重復性。此外，可針對貴重微量樣品選
配10ml微量樣品池，降低其測試成本。
獨特的軟件功能：根據磨料行業的測試要求，配有針對磨料行業的專用軟件，具有如下
獨特的功能：
1、 為符合磨料行業測試要求，軟件中專門加入了數據修正等數據處理模塊，能夠將測試數據進行智能修正，抑制顆粒形狀對粒度測試結果干擾的功能，使多角狀的磨料顆粒測試結果與磨料行業以往采用的電阻法測試結果相吻合。測試結果完全符合磨料行業標準，可替代電阻法測試儀器
2、 分析模式：包括自由分布、R-R分布和對數正態分布、按目分級統計模式等，滿足不同行業對被測樣品粒度統計方式的不同要求；
3、 統計方式：體積分布和數量分布，以滿足不同行業對于粒度分布的不同統計方式；
4、 統計比較：可針對多條測試結果進行統計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對樣品變化程度的控制具有良好的指導意義；
5、 自定義分析：用戶自定義分析參數，根據粒徑求百分比、根據百分比求粒徑或根據粒徑區間求百分比，以滿足不同行業對粒度測試的表征方式；
6、 測試報告輸出形式：測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果；
7、 多元化的語言界面：支持中英文界面，并可擴展成任何語言的界面。
u 測試準確度符合JIS日本標準或FEPA歐洲標準。
Winner2000 激光粒度分析儀技術參數：
產品參數
| 規格型號 | Winner2000E一檔 | Winner2000B三檔 | |
| 執行標準 | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013 | ||
| 測試范圍 | 0.1-300μm | 0.1-40μm /0.6-120μm/1-300μm | |
| 通道數 | 39 | 32×3 | |
| 準確性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | ||
| 重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | ||
| 激光器參數 | 高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>2mW | ||
| 分散方法 | 超聲 | 頻率：f=40KHz, 功率：p=35W, 時間：0-10min可調 | |
| 攪拌 | 轉速：0-300rpm轉速可調 | ||
| 循環 | 額定流量：8L/min 額定功率：10W | ||
| 樣品池 | 容量：350mL | ||
| 微量樣品池 | 容量：10mL（可選） | ||
| 操作模式 | 貼膜鍵操作 | ||
| 測試速度 | <2min/次 | ||
| 體積 | 680mm×350mm×440mm | ||
| 重量 | 30Kg
| ||
技術優勢
1.性價比優勢明顯：價格低廉、功能完善，能夠滿足企業的常規要求，是市面上普及率最高的粒度儀產品之一。
2.三檔測試技術，分辨率提高：樣品分布較窄的用戶可選擇三檔測試技術，縮小測量范圍以獲得更高的測試分辨率。
3.全內置分散系統：全內置分散系統，整體化控制協調性好，且縮短管路防止大顆粒二次沉淀。
4.無約束自由擬合技術：運用微納獨創的無約束自由擬合技術，粒度分析不受任何函數的限制，可真實反映顆粒的分布狀態。
5.先進的光路設計：采用微納專利的會聚光傅里葉變換光路，有效提高對亞微米顆粒的辨別能力。
DP-02型滴譜儀是專門為霧滴的測量而設計的，可根據應用現場情況改變儀器結構。
用途：測量液體噴霧的粒度分布。
工作原理：利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。
輸出項目：粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑、比表面積等