英國ABI-6400電路板故障檢測儀產品突出特征：
1）產品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶2）64路數字集成電路測試，64路V-I曲線測試，1路v-i探棒測試3）同一器件可以在同一時間完成多種測試：功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點系數測試，連接狀態測試，管管腳電壓測試4）測試庫達上萬種元器件，可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫，可以快速擴充測試庫5）整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據電路板原理，定義輸入激勵型號及輸出的標準響應信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。6）短路追蹤可以快速找到短路點7）V-I曲線溫漂拐點系數測定，方便找出不穩定器件8）V-I曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進調整，可調整為非對稱電壓掃描信號，掃描信號可達幾十種。8）邏輯電平閾值自定義。可以設定非標準的邏輯電平閾值，檢查不穩定的元器件9）邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統邏輯電平閾值零界值,設定循環測試來發現不穩定的錯誤結果.10）配有離線測試盒，快速測試批量元器件。離線測試和在線測試功能完全一至。12）系統可以在64路的基礎上以64通道為單位進行通道擴充，直至256通道電路板故障檢測儀 產品介紹及特點：
1）數字測試通道:64路（可擴充到256通道）.2）模擬測試通道64路（可擴充到256通道）.3）隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態器件（如74LS373,74LS245,等），可提供4路總線競爭隔離信號。4）快速掌握被測元件的多種信息,針對一個器件同時完成多種測試:數字ic功能測試,V-I曲線測試,曲線拐點溫度變化系數,各個管腳電壓值測量,管腳連接狀態測量顯示,5）能夠對多種邏輯電平數字邏輯器件進行在線/離線功能測試；上萬種測試元件庫，元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.6）邏輯電平閾值自定義。7）邏輯電平閾值自動掃描,以確定板系統邏輯電平閾值,設定循環測試來發現不穩定的錯誤結果.8）輸入輸出邏輯時序圖形顯示、具體時序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。9）IC型號識別：針對標識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試。10）讀寫存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進行在線或離線測試.可采取在線（離線）學習/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼11）V-I曲線模擬特征分析測試:V-I曲線測試通過比較好和壞電路板上相應器件管腳的特征曲線差異檢測故障.可把故障定位到電路結點.V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進行測試,V-I曲線測試無需給電路板加電,測試安全。12）5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護功能.由系統自動控制輸出,并可設定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。13）V-I曲線測試功能:可針對數位元件直接進行測試,具有64組測量通道并可以擴充到256組通道,測試電壓可由2.5到5V步階式調整,其輸出電流由系統自動調整設定.14）圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。15）電路板整板測試，通過圖像化測試庫編輯器，測試者可以根據電路板的原理圖，將電路板的輸入輸出的時序進行圖形化的測試庫編譯，自定義輸入通道的測試激勵信號，根據電路板的原理推算出輸出通道的響應時序信號，并將測試庫保存在測試庫中，以備日后做整板檢測使用。16）短路電阻測量功能：三段低電阻測量范圍，可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小，并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點。17）中英文測試軟件，體積小，usb口連接電腦18）V-I曲線測試電壓-10v~+10v內可以調整，正負電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保證測試的安全性。19）該設備可以64路通道為標準進行擴充，直至256路，保證了整板測試的最大路數為256路。20）V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點溫度變化系數，易于發現一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。21）數字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。22）V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試23）LSI大規模集成電路在線功能及狀態分析測試：可采取學習、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態分析測試。技術參數：
| 數字集成電路測試參數規格 | |
| 測試通道數: | 64通道（可擴展到256通道） |
| 總線隔離信號信道數: | 4通道or 8通道 |
| 實時比對功能: | 需有二個64通道, 或128通道 |
| 輸出驅動電壓: | TTL/CMOS 標準 |
| 輸出驅動電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max.400mA | |
| 驅動電壓轉換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態: | 三態或開集極開路 （內定或由程序設定） |
| 驅動邏輯形態: | Low, high, 三態 （tri-state） |
| 過電壓保護范圍: | <0.5V, >5.5V |
| 最長測試時間: | 根據被測元器件而定 |
| 測試方式: | 在線及離線測試 （需外接離線測試盒） |
| 電源供給規格參數 | |
| 自動供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| （ 2 x 5V @ 5A 固定式 for 128信道） | |
| 過電壓保護: | 7V |
| 過電流保護: | 7A |
| 測試模式 | |
| 單次（Single）: | 單次測試 |
| 循環（Loop）: | 反復測試, 或條件式循環測試（PASS或FAIL） |
| 自動掃描測試: | 可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設定規格參數 | |
| 最小調整解析: | 100mV |
| 低信號位準Low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V | |
| 轉態位準Switching levels: | TTL 1.0V to 2.3V |
| CMOS 1.0V to 3.0V | |
| 高信號位準High levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V | |
| 掃描低邏輯范圍Swept low levels: | TTL 0.1V to 1.1V |
| CMOS 0.1V to 1.5V | |
| 掃描邏輯轉態范圍Swept switching levels: | TTL 1.2V |
| CMOS 2.5V | |
| 掃描高邏輯范圍Swept high levels: | TTL 1.9V to 4.9V |
| CMOS 1.9V to 4.9V |
| 測試功能及參數 | |
| 集成電路功能測試 | 根據測試庫的功能進行測試，根據元件的原理和真值表進行測試 |
| 元器件連接特性測試 | |
| 短路狀態偵測 Short circuit detection | |
| 懸浮（浮接）狀態偵測 Floating input detection | |
| 開路狀態偵測 Open circuit detection | |
| 連接狀態偵測 Linked pin detection | |
| 電壓量測Voltage: | 最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
| 具邏輯狀態偵測 Logic state detection | |
| VI曲線測試: | 測試通道數64 – 256（擴展） |
| | 電壓設定范圍 -10V to +10V （可自行設定），可以設置非對稱電壓掃描 |
| | 最大測試電流 1mA |
| 曲線拐點系數: | 管腳的v-i曲線圖中的拐點圖形，隨溫度產生變化的系數，對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
| 配件 | |
| 標準配件 | 離線測試測試盒 |
| 1 x 64 way test cable （64通道測試線） | |
| 1 x 64 way split test cable （2X32通道測試線） | |
| 1 x V-I probe assembly （V-I曲線測試探棒） | |
| 1 x BDO cable （隔離通道信號測試線） | |
| 1 x Short locator cable （短路電阻測試探棒） | |
| 1 x Ground clip （接地信號夾） | |
| 1 x PSU lead set （電源輸出線） |
| 通訊及機箱 | |
| 內置通訊接口 | PCI interface （通訊接口） |
| 外置通訊接口及機箱 | MultiLink case （標配） 為 USB.通訊端口 |
| External case （選購） 可升級到 5個安裝槽的SYSTEM 8 外接箱 （USB.通訊端口）. |
| 組件數據庫 | |
| 可測試元器件種類: | TTL 54/74 logic, CMOS, Memory, Interface, LSI, Microprocessor, PAL/EPLD, Linear, Package, Special a及使用者定義 |
| 可測試元器件封裝類型: | DIL, SOIC, PLCC, QFP，用戶可以自己配置測試夾和轉接座 |
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