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15JE15JE數顯測量顯微鏡|數顯顯微鏡|測量顯微鏡

測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它結構簡單，操作方便，使用范圍極廣，主要用途如下：直角坐標中測定長度，例如測定孔距，幾面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度狹縫寬度、通孔外圓直徑等等：轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔、模板、刀具磨制及幾何形狀復雜的零件進行角度測量；作為普通顯微鏡觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

目鏡：10X 物鏡：2.5X，10X 工作距離：58.84mm、7.81mm 視場直徑：5.6mm、1.4 mm 總放大倍數：25X、100X 測量工作臺：直徑120mm， XY軸移動范圍50mm×13mm，轉動范圍0度-360度，刻度盤之分度值1度，刻度盤游標讀數值： 6’ 測量臺與物鏡間之最大距離：80mm 數顯測微器分度值：0.01mm，測量精度：儀器示值誤差±（5+L/15）um（儀器示值誤差包括測量誤差與儀器系統誤差）注：測量地點溫度變化（20±3）℃； L—被測件長度（mm）

JT-60B微機型工具顯微鏡，數顯顯微鏡，工具顯微鏡

主顯微鏡配有多種目鏡和物鏡，視場大，成像清晰。采用光電數顯技術，以精密光柵尺作為測量元件。采用先進計算機技術，將光柵數顯系統采集的長度信號實時輸入計算機，由專用軟件（CD202）進行數據處理，并打印出結果或圖形，準確，高效。主顯微鏡可左右偏擺，用于對螺旋零件進行測量。以非接觸測量為基本方法，透、反射照明，可檢驗幾何形狀復雜的另件。附件齊全，使用面廣。

物鏡放大率	總放大率	工作距離（㎜）	視場直徑（㎜）
1×	10×	≈79	≈26.70
3×	30×	≈69	≈6.7
5×	50×	≈49	≈4

※ 光學定位器的主要技術參數：測桿垂直方向擺動范圍：±3° 定位變動性：＜1μm 孔徑大于5㎜時，可測孔的最大深度：≈15㎜測力（N）：0.1±0.03 測量范圍（㎜）:5-200 儀器主機外形尺寸（㎜）長×寬×高=1300×1250×80 儀器主機重量：450㎏

微機型萬能工具顯微鏡JX13B是在數字式萬能工具顯微鏡JX11B的基礎上采用計算機技術對測量數據進行數據處理。配置了優于影象法和軸切法的雙光束干涉條紋測量法使微機型萬工顯系統性能得到了大大提高，軟件的可組合性和可開發性增強了系統的功能，在更大范圍內滿足廣大用戶的需要。微機型萬能工具顯微鏡是機械、電子制造業、計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。可以用來測量量程內的任何零件的尺寸、形狀、角度和位置。 ※ 典型測量對象有：測量各種成型零件如樣板、樣板車刀、樣板銑刀、沖模和凸輪的形狀。測量外螺紋（螺紋塞規、絲桿和蝸桿等）的中徑、小徑、螺距、牙型半角。測量齒輪滾刀的導程、齒形和牙型角。測量電路板、鉆模或孔板上的孔的位置度，鍵槽的對稱度等形位誤差。

測量范圍： X向行程：200㎜圓工作臺直徑：φ213㎜ Y向行程：100㎜平工作臺尺寸（㎜）：260×270 測角目鏡角度分劃范圍：360° 頂針間的最大夾緊長度：700㎜螺紋輪廓目鏡角度分劃范圍：±7° 頂針間能容納的最大直徑：φ100㎜圓工作臺角度分劃范圍：0°~360° 高頂針架最大夾緊長度：200㎜圓分度頭角度分劃范圍：0°~360° 高頂針架能容納的最大直徑：φ250㎜主顯微鏡立柱的傾斜范圍：±12° 干涉狹縫旋轉范圍：±90° 分度值： X、Y向分度值：0.0002㎜圓工作臺角度分度值：30″ 測角目鏡角度分度值:1′ 圓分度頭角度分度值：1′ 輪廓目鏡角度分度值：±12 主顯微鏡立柱傾斜角度分度值：30′ 測量準確度（被測件與儀器溫度差別不大于0.5℃,儀器室內溫度20℃±1℃）：（1+L/100）μm，其中L為測量長度，單位：㎜物鏡放大率，工作距離及視場直徑：

該公司產品分類：光學儀器元件投影儀配件三次元三坐標測量機投影儀三維掃描儀工具顯微鏡影像測量儀影像儀

XTL-3400供應XTL-3400三目顯微鏡數碼視頻數顯顯微鏡

XTL性能參數

光學系統

內斜光路變倍系統,體視角13°、45°傾斜觀察

變倍比：6.5:1（0.7X-4.5X）

目鏡： WF10X（φ20mm）

物鏡： 0.7X-4.5X

工作距離：95mm

視場范圍： 5.1mm-33mm

雙目瞳距：55mm-75mm

圓形載物臺直徑：φ95mm（濾色片直徑φ40mm）

光源：110V,220V/12V/10W鹵素燈亮度可調

選購部件：攝影裝置（僅限三目式）彩色顯微電視裝置（僅限三目式）數碼顯微攝影裝置（僅限三目式）

廣角目鏡:5X、12.5X、15X、20X、25X

超廣角目鏡:10X（φ23mm）

輔助大物鏡：0.5X、0.75X1.5X、2X

暗視場聚光鏡、寶石夾、寶石燈

ZWT302機械載物臺

該公司產品分類：百分表卡尺測厚規

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