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LW300MT上海北京LW300MT硅芯片檢查顯微鏡

本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。

二、技術指標

鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
大視野目鏡：WF10Xф18mm
長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
轉換器：五孔
總放大倍數：50X~800X
載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調，反射照明帶起偏振片

正交偏光裝置

該公司產品分類：唯信氣體分析儀電砂浴 HS-19A型肖氏硬度計恒溫水箱汽車檢測儀器孵化設備環保儀器電子天平長度測量儀顯微鏡量具量儀紡織儀器造紙包裝檢測儀器公路、建筑檢測儀器氣體檢測儀器油漆涂料類檢測儀器實驗室常用儀器環境、水質檢測儀器光譜色譜儀

產品特點：芯片檢查顯微鏡是一種結構新穎，象質良好，物鏡工作距離較長，使用方便的顯微鏡。顯微鏡載物臺可作X、Y、Z向三個方向移動，有粗微調調焦、限程、制動及自動復位機構，并設有上下照明裝置，以分別對透明或不透明的被測物進行觀察讀數。芯片檢查顯微鏡還備有多種規格的硅片框和掩板框，尤其適用于電子工業制造集成電路檢驗掩模板和硅片上的圖案，可與光刻機配套使用，同時在其他醫學、印刷、工農業生產和科研部門也有廣泛的用途。歡迎您聯系我們獲得芯片檢查顯微鏡TX400的更多信息。

【備　　注】：

芯片檢查顯微鏡TX400主要技術參數見下表：

項目	參數
目鏡放大倍率	10X
目鏡十字線分劃格值	0.04mm
物鏡放大倍率	5、10、20、40X
載物臺幅面	150X150mm
載物臺移動范圍	X向±50mm; Y向 ±50mm; Z向 ±22mm
輸入電壓	220V
外形尺寸	長×寬×高 400×280×430mm
凈重	14kg

8XB-PC芯片檢查顯微鏡8XB-PC

芯片檢查顯微鏡技術參數：1.鏡筒：三目，30°傾斜 2.高眼點目鏡：WF10X/Φ25mm 3.無限遠長工作距離物鏡：4X、10X、20X、40X 、100X4.轉換器：五孔 5.工作臺尺寸：310mm×350mm 6.調焦：粗微動同軸，范圍36mm，微動0.002mm 7.光源：垂直照明，鹵素燈12V100W，亮度可調 8.DIC裝置：偏光裝置、明暗場轉換

詳情請參照：www.szwdt.com

LW400LMDT湖南長沙LW400LMDT正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡

本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。

二、技術指標

鏡筒：T三目，30°傾斜
高眼點目鏡：WF10X/Φ25mm
無限遠長工作距離物鏡：4X、10X、20X、40X
轉換器：五孔
工作臺尺寸：310mm×350mm
調焦：粗微動同軸，范圍36mm，微動0.002mm
光源：垂直照明，鹵素燈12V100W，亮度可調
DIC裝置：偏光裝置、明暗場轉換

LW300MT甘肅蘭州LW300MT硅芯片檢查顯微鏡

二、技術指標

鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
大視野目鏡：WF10Xф18mm
長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
轉換器：五孔
總放大倍數：50X~800X
載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調，反射照明帶起偏振片

正交偏光裝置

LW300MT硅芯片檢查顯微鏡LW300MT

技術參數

規格

目鏡: 10X 廣角目鏡, 焦距25 mm, 視場數Φ22 mm。

三目鏡: 30°傾斜，瞳距：53~75 mm。

物鏡: 無限遠平場消色差明/暗視場物鏡（無蓋玻片）

放大倍數	數值孔徑	工作距離（mm）	備注
5X	0.12	9.70
10X	0.25	3.73
20X	0.40	7.23
40X	0.60	3.04

轉換器: 四孔滾珠內定位轉換器。

載物臺: 雙層機械式載物臺, 尺寸：210 X 140 mm，移動范圍：75 X 50 mm。

聚光鏡: 阿貝聚光鏡（帶孔徑光欄, 數值孔徑1.25）。

調焦機構：粗微同軸調焦，粗動手輪松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值2μm/格。

照明: 上光源（落射照明）12V50W鹵素燈，亮度可調。

下光源（透射照明）12V30W 鹵素燈，亮度可調。

電源：輸入電源電壓（85~265V 50/60Hz）。

技術參數

目鏡: 10X 廣角目鏡, 焦距25 mm, 視場數Φ22 mm。

三目鏡: 30°傾斜，瞳距：53~75 mm。

物鏡: 無限遠平場消色差明/暗視場物鏡（無蓋玻片）

放大倍數	數值孔徑	工作距離（mm）	備注
5X	0.12	9.70
10X	0.25	3.73
20X	0.40	7.23
40X	0.60	3.04

轉換器: 四孔滾珠內定位轉換器。

載物臺: 雙層機械式載物臺, 尺寸：210 X 140 mm，移動范圍：75 X 50 mm。

聚光鏡: 阿貝聚光鏡（帶孔徑光欄, 數值孔徑1.25）。

調焦機構：粗微同軸調焦，粗動手輪松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值2μm/格。

照明: 上光源（落射照明）12V50W鹵素燈，亮度可調。

下光源（透射照明）12V30W 鹵素燈，亮度可調。

電源：輸入電源電壓（85~265V 50/60Hz）。

儀器維護

1. 擦拭機體與載物臺面

擦拭前應從主電源插座中拔掉電源插頭，確保儀器電源斷開。然后用干凈柔軟的抹布蘸少許中性清潔劑擦拭機體與載物臺面。使用儀器前要請確認儀器干燥。

2. 光學部件

顯微鏡中的目鏡、物鏡中的鏡片都有鍍膜。請不要在非常干燥或大灰塵的環境下擦拭。擦拭時首先把可見的灰塵吹去，然后用棉簽或抹鏡紙蘸少許鏡片清潔劑或無水酒精擦拭鏡片表面，不可使用如二甲苯之類的溶劑擦拭鏡片。

3. 勿隨意拆卸顯微鏡！

顯微鏡是精密光學儀器，各零部件切勿隨便拆卸，以免損害其操作效能和精度。如有故障應送專業維修部門或與供應商聯系。

4.不使用儀器時！

儀器不使用時，用有機玻璃或聚乙烯罩子罩上，并存放在干燥與沒有霉菌滋生的地方。物鏡和目鏡放在有干燥劑的密閉容器中。

該公司產品分類：工業顯微鏡工具顯微鏡體視顯微鏡熒光顯微鏡偏光顯微鏡金相顯微鏡生物顯微鏡

北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法

芯片檢查顯微鏡小型光學檢測系統

型號：GH/TX400

北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法微觀圖像轉換為視頻信號輸入到彩色電視機上進行圖像顯示。若選購配置彩色攝像機或攝影照相裝置，還可以進行圖像記錄，便于資料長久保存和隨時再現圖像。本產品實現光、機、電、一體化，同時具有操作簡單，使用方便之特點。可供多人觀察、討論研究、分析。廣泛用于高等院校、研究院所、衛生醫療機構等作科研、教學之用。

北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法【備　　注】：

放在倍率：21X－－135X 可擴大倍率：84X－－540X 工作距離：32mm－－275mm 顯示方式：電腦/顯示器/液晶屏/電視機照明光源：環型光源標準配置: 大面積萬能工作臺 1 臺彩色監視器 1 套照明光源(環形冷光源) 1 套高清晰彩色攝像機 1 套高清晰目鏡 1 套選配:計算機+多功能圖象采集卡,完成圖象的存儲和打印,方便學校,研究機構和企業用來質量分析,反饋跟蹤,靜態圖象處理,靜態圖像編輯,表面圖像分析,裂痕分析等.

北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法

微觀圖像轉換為視頻信號輸入到彩色電視機上進行圖像顯示。若選購配置彩色攝像機或攝影照相裝置，還可以進行圖像記錄，便于資料長久保存和隨時再現圖像。本產品實現光、機、電、一體化，同時具有操作簡單，使用方便之特點。可供多人觀察、討論研究、分析。廣泛用于高等院校、研究院所、衛生醫療機構等作科研、教學之用。

【備　　注】：

該公司產品分類：測距儀、測速儀硬度計流量計其他行業專用儀器儀表軸承測試儀、軸承加熱器汽車行業檢測儀位移傳感器/位移測量儀水文儀器轉速測量儀/轉速儀/轉速表振動分析儀/測振儀激光測試儀器設備/機械故障檢測儀前照燈檢測儀行業專用儀器儀表其他物理學儀器反射率儀白度計/白度儀比色計/比色儀/色度儀測色儀/色差計冰點儀/比重計

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北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法